Art.-Nr. 31-24-430-0000
für Industrie-/Material-Anwendungen Verfahrbereich: 100 x 40 mm Spindelsteigung: 1 mm
Art.-Nr. 00-24-546-0000
Zeiss Axiovert 35 / 100 / 135 / 135 M / 200 M / 200 MAT / 200 M MAT Verfahrbereich: 130 x 100 mm Spindelsteigung: 1 mm
Art.-Nr. 00-27-322-0000
Verfahrbereich: 76 x 52 mm verschleißfreie CERASIST®-Oberfläche
Art.-Nr. 00-42-102-0000
links, mit Klemme 1/2"
Art.-Nr. 00-42-104-0000
links, mit Kippeinrichtung
Art.-Nr. 00-42-103-0000
rechts, mit Kippeinrichtung
Art.-Nr. 00-42-106-0000
Art.-Nr. 00-42-121-0000
Art.-Nr. 00-30-222-0000
geschlossene Ausführung
Art.-Nr. 00-30-102-0000
mit Glasplatte
Art.-Nr. 00-30-224-0000
für Härteprüfung
Art.-Nr. 00-34-107-0000
Verfahrbereich: 200 x 100 mm Spindelsteigung: 2 mm mit integriertem MR-Messsystem
Art.-Nr. 00-36-104-0000
für Auflichtmessungen, geschlossene Ausführung Verfahrbereich: 50 x 50 mm Spindelsteigung: 1 mm
Art.-Nr. 00-36-109-0000
für Härteprüfungen, flache Version Verfahrbereich: 50 x 50 mm Spindelsteigung: 1 mm
Art.-Nr. 00-29-650-8000
für 5" und 6" Wafer
Art.-Nr. 00-29-850-8000
für 6" und 8" Wafer
Art.-Nr. 00-29-350-8000
für 8" und 12" Wafer
Art.-Nr. 00-22-401-0000
Verfahrbereich: 100 x 100 mm
Art.-Nr. 45-54-501-0000
Nikon Eclipse E200
Art.-Nr. 45-54-505-0000
Nikon Eclipse LV100D, Eclipse LV150, Eclipse 50i, Eclipse 55i, Eclipse 80i
Art.-Nr. 00-55-500-1010
für 1 Petrischale Ø 36 mm geeignet für Piezo Z-Tisch 300 µm Abmessungen: 128 x 86 x 3 mm