Zusatzinformationen
- Scanningtisch für aufrechte Mikroskope
- mit integriertem MR-Messsystem
- Verfahrbereich: 200 x 200 mm
- Spindelsteigung: 4 mm
- für Auflichtanwendungen
- inkl. Metalleinlegeplatte (Bestell-Nr.: 00-24-801-0011)
- Adaption für Nikon Eclipse L200N