SCANplus 270 x 205
Artikelnummer: 45-5524-1102-0000
Zusatzinformationen
- Scanningtisch für aufrechte Mikroskope
- Verfahrbereich: 270 x 205 mm
- Spindelsteigung: 2 mm
- inkl. in den Führungen integriertes XY-Messsystem
- inkl. Waferaufnahme (Bestell-Nr.: 45-5524-1102-0006)
- zur Verwendung mit Nikon NWL200 oder NWL860
- Adaption für Nikon Eclipse L200 / L200N