SCAN IM 130 x 85
Artikelnummer: 00-24-639-0000
Zusatzinformationen
- Scanningtisch für inverse Mikroskope
- Verfahrbereich: 130 x 85 mm
- Spindelsteigung: 2 mm
- flaches, ergonomisches Design mit abgerundeten Ecken
- geschlossene Oberfläche, frei von Störkonturen
- inkl. Einlegerahmen für 1 Objektträger 76 x 26 mm (Bestell-Nr.: 00-29-411-8010)
- Adaption für Nikon Eclipse Ts2R